MVS-729F,采用高效自主算法,由高性能工业控制器、高清工业相机阵列构成,有效的提高了生产效率与保障了产品的一致性,其具有如下特征
◆ 基于先进的软件开发环境、高效自主图形算法,安全、可靠
◆ 高性能工业控制器与工业相机阵列,检测效率高、精度高
◆ 方便的维护舱门、推拉装置和安全锁
◆ 定制尺寸,适于生产现场与运输
◆ 检测液晶模组的点、线、面缺陷与外观损伤
◆ 单项缺陷检测算法达到毫秒级
◆ 检测大尺寸液晶模组
◆ 可检测Mura、漏光等业内高难度缺陷
| 液晶模组检测技术规格表 |
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| 类别 |
项次 |
机器视觉设备选型 |
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| 基本型 |
增强型 |
豪华型 |
定制项 |
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| 检测指标 |
检测精度 |
像素级 |
子像素级 |
1/2子像素 |
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| 整体检测时间,备注 |
6s |
4s |
3s |
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| 点缺陷 |
单亮点 |
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| 连亮点 |
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| 碎亮点 |
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| 单暗点 |
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| 连暗点 |
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| 聚焦暗点 |
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| 线缺陷 |
黑线 |
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| 白条 |
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| 线状异物 |
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| 面缺陷 |
黑团 |
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| 白团 |
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| 气泡 |
V |
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| 凹痕 |
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| 异物 |
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| Mura |
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| 漏光 |
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| 外观缺陷 |
破裂 |
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| 划痕 |
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| Logo |
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| 功能缺陷 |
闪动 |
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| 网纹 |
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| 亮线 |
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| 暗线 |
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| 功能不良 |
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| 注:如上“√”表示支持 |
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